帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 帯電液滴衝撃(EDI)エッチング法によるポリマーのSIMS、XPSの深さ方向分析 (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
- X線光電子分光深さ方向分析用帯電液滴エッチング銃の開発
- 帯電液滴エッチング法によるPETフィルムのXPS深さ方向分析
- 28pYQ-7 高分解能透過電子顕微鏡法に基づいた固体ポイントコンタクトの原子配列、応力、および電気伝導ミリ秒ダイナミックスの同時観察
- 300kVエネルギーフィルターFETEMの開発と応用
- 帯電液滴エッチングで生成したポリメチルメタクリレート表面のX線光電子分光法及び走査形プローブ顕微鏡による解析
- Ω型エネルギーフィルターを内臓した超高真空電子顕微鏡の開発
- クラスター二次イオン質量分析計の展望--帯電液滴衝撃/二次イオン質量分析計の進展
- 全反射X線光電子分光法による微量元素分析
- 全反射X線光電子分光法によるシリコンウェハー上微量元素分析
- XPS,SPMを用いたMEH-PPV(有機EL材料)の表面解析
- 帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析
- 帯電液滴エッチングで生成したポリメチルメタクリレート表面のX線光電子分光法及び走査形プローブ顕微鏡による解析
- 時間分解型高分解能観察 -V.孤立原子クラスターの変形-
- 25p-K-5 高分解能透過電子顕微鏡によるSi/Si常温接合過程のその場観察
- 25p-K-4 孤立原子クラスターの変形の原子直視観察
- 5p-X-3 カーボンナノチューブの筒状構造の3次元的直接観察
- 5p-X-1 カーボンナノチューブの電子顕微鏡内変形の高分解能その場観察
- X線光電子分光法によるウルシ膜の表面構造の解析
- X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価
- X線光電子スペクトルによる材料表面の化学状態解析に関する研究
- XPSによる帯電液滴照射と低速単原子イオン照射後の高分子材料表面解析
- 巨大クラスターイオン衝撃によるX線光電子分光法の深さ方向分析の展開
- 巨大クラスターイオン衝撃によるX線光電子分光法の深さ方向分析の展開