飯島 善時 | 日本電子(株)開発部
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概要
関連著者
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飯島 善時
日本電子(株)開発部
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境 悠治
山梨大学クリーンエネルギー研究センター
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飯島 善時
日本電子(株)
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成瀬 幹夫
日本電子(株)
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平岡 賢三
山梨大学クリーンエネルギー研究センター
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三好 康介
日本電気(株)ulsiデバイス開発研究所微細加工技術グループ
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平岡 賢三
山梨大学工学部
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斎藤 修一
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所結晶開発部
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宮腰 哲雄
明治大学理工学部応用化学科
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宮腰 哲雄
明治大学理工学部
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平岡 賢三
山梨大学工学
著作論文
- 帯電液滴衝撃(EDI)エッチング法によるポリマーのSIMS、XPSの深さ方向分析 (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
- X線光電子分光深さ方向分析用帯電液滴エッチング銃の開発
- 帯電液滴エッチング法によるPETフィルムのXPS深さ方向分析
- クラスター二次イオン質量分析計の展望--帯電液滴衝撃/二次イオン質量分析計の進展
- 全反射X線光電子分光法による微量元素分析
- 全反射X線光電子分光法によるシリコンウェハー上微量元素分析
- XPS,SPMを用いたMEH-PPV(有機EL材料)の表面解析
- 帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析
- 帯電液滴エッチングで生成したポリメチルメタクリレート表面のX線光電子分光法及び走査形プローブ顕微鏡による解析
- X線光電子分光法によるウルシ膜の表面構造の解析
- X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価
- X線光電子スペクトルによる材料表面の化学状態解析に関する研究
- XPSによる帯電液滴照射と低速単原子イオン照射後の高分子材料表面解析