飯島 善時 | 日本電子(株)

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概要

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• 日本電子(株)の論文著者

関連著者

• 飯島 善時

  日本電子(株)

• 飯島 善時

  日本電子(株)開発部

• 平岡 賢三

  山梨大学クリーンエネルギー研究センター

• 三好 康介

  日本電気(株)ulsiデバイス開発研究所微細加工技術グループ

• 平岡 賢三

  山梨大学工学部

• 塩田 隆

  電総研

• 赤塚 洋

  東京工業大学

• 湯地 敏史

  宮崎大学 教育文化学部

• 重川 秀実

  筑波大学物理工学系

• 浦山 卓也

  (株)ADTECプラズマテクノロジー

• 藤井 修逸

  (株)ADTECプラズマテクノロジー

• 須崎 嘉文

  香川大学 工学部

• 湯地 敏史

  大分高専

• 湯地 敏史

  佐土原高校

• 須崎 嘉文

  香川大学工学部

• 赤塚 洋

  東京工大

• 赤塚 洋

  東京工業大学 原子炉研究所

• 赤塚 洋

  東京工大 原子炉工研

• 成瀬 幹夫

  日本電子(株)

• 境 悠治

  山梨大学クリーンエネルギー研究センター

• 三宅 晃司

  筑波大学物質工学系, 先端学際領域研究センター

• 斎藤 修一

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所結晶開発部

• 須崎 嘉文

  香川大学

• Ezoubtchenko Alexandre

  Research Laboratory For Nuclear Reactors Tokyo Institute Of Technology

• 宮腰 哲雄

  明治大学理工学部応用化学科

• 宮腰 哲雄

  明治大学理工学部

• 平岡 賢三

  山梨大学工学

• 石田 真彦

  筑波大学物質工学系

• 須磨岡 淳

  東大工

• 小宮山 真

  東大工

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著作論文

• 大気圧非平衡マイクロ波プラズマジェットを用いたPENフィルム表面処理における基礎特性
• 全反射X線光電子分光法による微量元素分析
• 全反射X線光電子分光法によるシリコンウェハー上微量元素分析
• 帯電液滴エッチングで生成したポリメチルメタクリレート表面のX線光電子分光法及び走査形プローブ顕微鏡による解析
• X線光電子分光法によるウルシ膜の表面構造の解析
• X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価
• X線光電子スペクトルによる材料表面の化学状態解析に関する研究
• 希土類錯体の分子・電子構造と核酸の切断反応

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