空間時間分解PLによるInGaN/GaN単一量子井戸のキャリア拡散ダイナミクスの評価--SNOMによるEfficiency droop機構の解明 (電子デバイス)

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概要

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• 2010-11-11

著者

• 船戸 充

  京都大学 工学研究科電子工学専攻

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