電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響 (機構デバイス)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2010-10-15

著者

• 窪野 隆能

  静岡大学

関連論文

• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響 (機構デバイス)
• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響 (環境電磁工学)
• 片持ち梁支持片の先端に取り付けた電気接点対におけるワイピング動作中のチャッタと転移突起との関係(機構デバイス)
• 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
• SC-3-2 DC 42V-7Ωと 5Ω抵抗性回路を開閉するリレー搭載 AgNi10% 電気接点対での転移突起観察
• C-5-1 DC42V-6A 抵抗性回路内の継電器搭載 Pd 電気接点での転移方向
• 42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響 (機構デバイス)
• 電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転開始条件 (機構デバイス)
• C-5-11 陰極に埋め込まれた永久磁石によって回転駆動される開離時アークの継続時間と回転周波数(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-10 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アーク(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
• 高沸点電極における真空アーク陰極足の特性値の比較
• 電気接点の表面粗さと接触抵抗の関係 (機構デバイス)
• Ag電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転速度
• 直流20-500V/5-30A回路における開離時アークの諸特性(放電・EMC/一般)
• CS-7-4 直流抵抗性負荷回路内で永久磁石によって回転駆動される開離時アークの諸特性(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
• C-5-4 直流高電圧10A回路でのアーチ状開離時アークの諸特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
• 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動(放電・回路/一般)
• C-5-6 閉成責務動作接点対でのアーク足の存在場所(C-5.機構デバイス,一般講演)
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• Ag、Ag/ZnO電気接点対間で発生する開離時アークの継続時間と輝点の移動特性との関係
• CS-5-4 接点開離直後の間欠的アーク放電の発生メカニズム(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
• C-5-1 直流電源の極性を逆転させることによる転移突起の成長抑止策(C-5.機構デバイス,一般講演)
• C-5-2 リレー搭載の閉成責務動作接点対におけるスチッキング発生時前後の復旧時間の変化(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
• CS-5-3 片持ち梁支持片に載せたAgやAg/SnO_2の閉成責務動作接点対における分離時電圧波形(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
• リレー搭載閉成責務接点対でのスチッキング発生時の接点間電圧波形(機構デバイス)
• 電気接点に埋め込まれた永久磁石によって磁気駆動される開離時アークの回転開始条件
• デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み(第2報)
• C-5-16 レーザ顕微鏡データを用いた体積計測プログラム開発の試み(C-5.機構デバイス)
• 電気接点に埋め込まれた永久磁石の極性が開離時アークの回転運動に与える影響
• C-5-10 電磁リレーに搭載された電気接点対の陰極側に埋め込まれた永久磁石によるアーク放電の回転駆動(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-9 永久磁石を埋め込む極性が開離時アークの回転駆動に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-8 横磁界印加時の開離時アークの継続時間と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-7 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アークに作用するローレンツ力とそのアーク長さ(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
• 直流回路におけるAg接点対間で発生する開離時アークの継続時間に対する横磁界の影響(放電,実装,EMC,一般)
• Cu, Ni, Pd 電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
• Cu, Ni, Pd電気接点対で発生する開離時アークの温度測定
• リレー搭載閉成責務動作接点対での分離時電圧波形 : 分離動作時のワイピング作用中のチャッター
• C-5-9 20A抵抗回路で閉成責務動作するリレー接点での分離不良の一原因(C-5.機構デバイス)
• 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
• 銅電気接点対での開離時アークの電圧・電流・温度・金属蒸気密度の関係
• SC-3-8 Cu 電気接点対における開離時アークの温度測定
• 多重電離イオンを含むアーク電流範囲の検討
• デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
• デジタルレーザ顕微鏡の計測データの処理プログラム開発の試み
• 銅やニッケル電気接点対での開離時アークの分光温度計測
• Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
• Ag接点開離時アークにおける開離速度と輝点運動と電圧波形との関係
• 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
• 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
• 開離動作毎のアーク輝点の移動範囲と接点表面状態の観察
• 銅電気接点対の接触面形状を変えた場合のアークスポット挙動の違い
• 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
• 高速度カメラによる開離時アークの発光分布計測
• AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
• 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
• AgNi10wt%電気接点対の転移突起成長と電気的特性
• 直流42V-4.2A回路を開閉するAg系電気接点対における材料転移の方向について
• 直流42V回路を開閉する電気接点対の材料の違いによる突起の成長過程の比較・検討(「ショートノート」(卒業・修論特集))
• 14V-21A回路を開閉するリレー搭載Ag, Pd電気接点対でのアーク転移の方向について(「ショートノート」(卒業・修論特集))
• 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
• 直流回路を開閉する接点対に形成される転移突起の接触面上での位置と形状
• 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
• 直流14V及び42V回路内のAgSnO_2電気接点の転移突起に関する研究
• 電気接点の表面粗さと接触抵抗の関係
• 交流誘導負荷を開閉する継電器電気接点の諸特性測定
• C-5-2 接触抵抗-荷重特性測定装置の製作(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• リレー搭載Pd電気接点対でのアーク転移の方向について : 直流42Vの4〜10A抵抗性回路を断続する場合
• CS-2-2 直流高電圧回路内で横磁界により駆動される開離時アークのアークの長さ(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-4 電気接点に埋め込まれた永久磁石による開離時アークの回転駆動効果の電流依存性(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-3 永久磁石埋め込み型接点で回転駆動される開離時アークの回転半径(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• DC10 A回路しゃ断時におけるアーク温度の分光測定
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消孤直前の電圧の時間変化 (機構デバイス)
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消孤直前の電圧の時間変化 (環境電磁工学)
• 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• C-5-8 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布の開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-5 直流300V抵抗性負荷回路内において磁気吹き消しされる開離時アーク消弧時のアーク長さの磁石形状依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その10)直流回路での閉成責務動作Ag/Sn9.5wt%接点対での損傷面観察
• 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
• 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化(放電,EMC/一般)
• 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化(放電,EMC/一般)
• リレー搭載の閉成責務動作電気接点での転移突起(フェロー受賞記念講演)
• CS-3-3 直流450V回路内において磁気吹き消しされる開離時アークの再点弧の有無によるアーク長さの違い(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
• 直流48V回路における開離時アークの移動範囲と接点表面の曲率半径の関係
• 開離時アーク後の接点表面状態と接触抵抗分布の接点開離速度依存性
• 開離時アーク後の接点表面状態と接触抵抗分布の接点開離速度依存性
• 直流48V回路における開離時アークの移動範囲と接点表面の曲率半径の関係
• SC-3-7 銀又は銅接点対の開離時アークの高速度カメラによる計測

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク