R-Fe(R: Tb,Sm)薄膜の滋歪へ及ぼすArイオン照射により誘起された残留応力の影響 (特集 スマートマテリアル)

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概要

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著者

• 内田 裕久

  東海大学工学部エネルギー工学科

• 松村 義人

  東海大学大学院工学研究科応用理学専攻

• 松村 義人

  東海大学工学部応用物理学科

• 竹内 光明

  東海大工

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