グロ-放電成膜現象の発光スペクトルによる評価 (無機材料の合成を支える技術とその評価<特集>) -- (薄膜作成)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本化学会の論文

著者

• 辻 幸一

  大阪市立大学大学院工学研究科化学生物系専攻

• 辻 幸一

  アントワープ大学

• 広川 吉之助

  東北大

関連論文

• オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
• 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
• イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
• 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
• オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
• 化学変化を原子レベルでみる(原子をみる)
• 合金シードを用いるめっき銅薄膜のキャラクタリゼーション(機能性界面と分析化学)
• 共焦点型3D蛍光X線分析装置による実験室での3D元素マッピング
• 共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と微小部深さ方向分析への応用
• 2006年X線分析関連文献総合報告
• 共焦点型蛍光X線分析装置の開発と米試料の三次元元素マッピング(原子をみる)
• 水溶液よりのセレン及びテルルの金属析出分離
• 水溶液よりのパラジウム及び白金の金属析出分離
• ニードル型コリメーターを用いる試料内部微小空間の蛍光X線分析(若手研究者の初論文)
• スパーク発光分光分析法による鋼中窒素の定量
• 硝酸塩,硫酸塩などからのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターン
• Ga ・ 1次イオン TOF-SIMS による有機化合物の存在確認
• 二,三の合成高分子化合物のTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
• 金属塩化物ならびに酸化物からのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
• 金属の表面分析の現状と課題 (2)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
• 金属の表面分析の現状と課題 (1)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
• 全反射蛍光X線分析法のための血液試料サンプリング方法の検討(「若手研究者の初論文」)
• 元素の識別--X線照射による元素分析型STMの試み (特集 ナノワールドへご招待(1)新しい手法編)
• 固液界面用蛍光X線分析法の提案と化学めっき過程の観察(機能性界面と分析化学)
• インホメーション
• 走査型共焦点蛍光X線分析法による試料表面および表面近傍の三次元元素分析
• Ga^+一次イオンTOF-SIMSによるSi酸化膜厚評価の可能性
• 含水酸化物表面からのGa^+1次イオン TOF-SIMS フラグメント パターン観察
• Ga^+1次イオン TOF-SIMS における有機化合物の開裂推定 : 多原子分子における結合解離エネルギーに着目して
• 無機化合物のGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み
• 無機化合物におけるGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターンの規則性
• 近赤外光とX線の間
• 表面・界面分析と材料
• 微量分析法の限界
• 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
• 斜入射・斜出射-蛍光X線分析法による表面反応の評価
• STM装置を用いたX線励起電流の測定
• 高温炉原子吸光法の灰化段階における化合物と合金相の二次イオン質量分析による検討
• 高温炉原子吸光法における原子蒸気温度の異常な上昇について
• 高温炉原子吸光分析におけるセレンの原子蒸気温度とマトリックスモディファイアとの関係
• グロ-放電成膜現象の発光スペクトルによる評価 (無機材料の合成を支える技術とその評価) -- (薄膜作成)
• オージェ電子分光装置によるアルミニウム及びマグネシウム基板上の薄膜からのX線光電子測定
• 鉄鋼の原子スペクトル分析
• 金属中微量元素の分析は重要であろうか
• グロー放電発光分光法による無電解ニッケルめっき皮膜の深さ方向分析
• -理工系-卒業論文作成の手引き(アグネ叢書 8), 太田恵造著, 1993 年 4 月, (株)アグネ技術センター発行, A5 判, 155 頁, 1,854 円
• 回折結晶学と材料科学 : 仙台スクール 40 年の軌跡, 東北大学金属材料研究所小川研究室成果刊行会編, 1993 年 3 月, (株)アグネ技術センター発行, B5 判, 310 頁, 7,210 円
• 鉄鋼材料の表面・界面分析
• 標準試料・標準物質
• 高温超伝導酸化物Bi_2Sr_2Ca_Cu_nO_y(n=1,2)間に存在する不純物のX線光電子分光測定(表面・界面・薄膜と分析化学)
• X線光電子分光並びに薄膜X線回折による窒化チタンコーティング鋼の界面近傍分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
• 鉄鋼表面分析(表面分析)(分析評価・解析)
• 複陰極型グロー放電管の開発とその鉄鋼分析への応用(機器分析)(分析評価・解析)
• 特集号「分析評価・解析」の発刊にあたって(分析評価・解析)
• 粘着性テープを用いた蛍光X線分析用簡易サンプリング方法
• 全反射蛍光X線分析法による金属試料の大気圧下表面分析
• 微小部X線分析--TXRF2003サテライト会議での話題を中心に
• X線分析研究懇談会「第5回浅田榮一賞」
• 第36回国際分光学会議(36^ CSI)
• 照射・検出同軸型の微小部XRFプローブの開発
• 境界領域から生まれる融合的な分析科学
• ポリキャピラリーX線レンズの基礎と応用
• 2005年X線分析関連文献総合報告
• 合志陽一元会長に 2005 CSI Award
• 全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製
• 蛍光X線分析法における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法
• 反射板を利用した全反射蛍光X線分析の基礎検討
• 斜出射X線分析 : EPMAと蛍光X線分析への応用
• 斜出射X線測定と走査型トンネル顕微鏡を用いる局所表面分析
• 解説 斜出射X線測定型の電子線プローブマイクロアナリシス
• 斜出射X線測定による微小領域の 表面分析と微粒子分析
• ベルギーのマイクロアナリシス研究集団
• グリム型グロー放電プラズマからの高速電子放出現象とX線元素分析への応用
• 全反射X線侵入深さの評価
• 進歩総説 微小部蛍光X線分析と元素イメージング
• 微小部蛍光X線分析法によるアユの耳石中のSr分布解析
• X線分光の現在(1)X線発光分光
• 微小部蛍光X線分析と元素イメージング
• 蛍光X線分析法による表面界面元素分析

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク