Observation of Self-Assembled Monolayer Using the Lateral Resonance of the Cantilever in the Contact and Noncontact Regions
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概要
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A new imaging method utilizing the lateral resonance vibration of a cantilever in atomic force microscopy was applied to evaluate microcontact printed patterns of self-assembled monolayers. The lateral resonance vibration of a cantilever was excited by the feedback of the torsional signal detected optically to a shear piezo set at the base of the cantilever. The amplitude and frequency shift of the vibration were mapped as images in air and in vacuum. The phase-separated patterns of octadecanethiol and 16-mercaptohexadecanoic acid on gold substrates were observed in air using a contact-mode cantilever and -CH3-terminated cantilever, respectively. In most cases, amplitude mapping showed a similar contrast to friction force microscopy but with a better lateral resolution and contrast. In the case where the vibration amplitude was smaller than 3 nm, adhesive force was dominant on the image contrast. The observation using a noncontact-mode cantilever in vacuum gave a good contrast, where the tip-sample distance was controlled by maintaining a set lateral amplitude.
- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
- 2004-07-15
著者
-
Kim Beomjoon
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Kobayashi Dai
Crest Japan Science And Technology Agency
-
Kawai Shigeki
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo:jst-crest:department Of Physics University Of Ba
-
KAWAGISHI Takayoshi
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
Kawakatsu Hideki
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Hoshi Yasuo
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Takeuchi Shoji
Institute Of Indusrial Science The University Of Tokyo:presto Jst
-
Hoshi Yasuo
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
-
Kobayashi Dai
CREST, Japan Science and Technology Agency, 4-1-8 Honcho, Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan
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Kim Janggil
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
-
Cho Young-Hak
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
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Kawai Shigeki
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
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Kawakatsu Hideki
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
-
Kim Beomjoon
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
-
Kawagishi Takayoshi
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan
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