底質中のリン,イオウのけい光X線分析
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概要
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河川や海域における汚染底質中のリン,イオウのけい光X線分析を検討した.軽元素のX線強度は基質構成元素の違いによって大きく左右されるのでなんらかの補正を必要とする.補正法として,モデル標準試料(SiO<SUB>2</SUB>:H<SUB>3</SUB>BO<SUB>3</SUB>=3:2)の基質に被測定元素および基質に対する被測定元素のX線強度変動を間接的にみるための内標準元素としてスカンジウムの一定量を混合した.モデル標準基質における各元素のけい光X線強度を単位として,種々の基質における各元素とのX線強度の関係を求めることによって<I>I</I><SUB>F(i)</SUB>/<I>I</I><SUB>F(m)</SUB>=<I>K</I>・<I>I</I><SUB>Sc(i)</SUB>/<I>I</I><SUB>Sc(m)</SUB>+αを得た.この関係を用いて被測定元素の強度補正を試みた.本実験における再現性の検討では500μg/gの濃度におけるリンの場合,標準偏差(s)=64.1μg/gであり,変動係数(c.v.)=12.8%であった.一方,500μg/gの濃度におけるイオウの場合,s=65.6%,c.v=13.1%であった.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
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