MEMにより求めたYBa<SUB>2</SUB>Cu<SUB>3</SUB>Oyの電子密度分布について
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
2a-S-4 X線回折によるアルカリ金属ドープC_60の電子密度
-
2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
-
5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
-
2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
-
3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
-
3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
-
4a-BC-10 KENS FOXにおけるデータ処理
-
1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
-
11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
-
11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
-
11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
-
11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
-
温度因子と非調和熱振動
-
3a GG-10 CsPbX_3のM_3モード凍結とCubic相における異方的非調和熱振動
-
1a-BD-12 CsPbBr_3 立方昌の結晶構造と温度因子
-
11a-J-3 CsPbX_3の温度因子の非調和性
-
6a-B-9 CuCl熱振動の非調和性 : 中性子線回折による
-
5a-B-12 TDSの補正 II
-
10p-T-2 TDSの補正
-
10a-P-11 正方晶系チタン酸バリウムのキュリー点近傍での中性子回折による温度因子
-
26pYA-7 XRDをもちいたZnSe/GaAsヘテロエピタキシャル結晶の評価
-
深さ方向の歪み場によるX線回折強度
-
低温用実用熱拡散率測定装置の開発(2)
-
低温用実用熱拡散率測定装置の開発
-
2a-P-8 "NbN薄膜の透過と反射の両測定から光学定数の直接決定"
-
遠赤外透過率測定によるNbN薄膜及びBi2212単結晶の超伝導特性に関する研究(第42回 物性若手夏の学校(1997年度))
-
31p-K-13 光学的手法によるNbN薄膜の超伝導特性の研究
-
30p-TC-5 酸化物超伝導体の遠赤外レーザ光吸収の波長依存性
-
27aYN-5 ナノチューブ分散高分子材料の光通信波長帯における3次非線形光学感受率(ナノチューブ物性2(光物性),領域7(分子性固体・有機導体))
-
31p-TJ-6 選択配向性のある粉末X線データのMEMによる解析
-
5a-P-10 MEMによるab initio粉末構造解析の試み
-
1p-YL-1 SPring-8におけるX線偏光素子の開発
-
19pYF-3 ポリマー中に分散した単層カーボンナノチューブの吸収飽和の時間応答(ナノチューブ光物性,領域7(分子性固体・有機導体))
-
13aWF-1 単層カーボンナノチューブ分散高分子配向膜の可飽和吸収特性(ナノチューブ光物性, 領域 7)
-
2a-YF-13 X線反射率測定によるMBE-ZnSe/GaAs(001)ヘテロ界面の評価
-
29aZA-10 直流磁化で見るκ-(BETS)_2FeBr_4 の超伝導 : 2K 以下の磁化測定
-
19pWF-9 有機超伝導体の一軸性圧力効果 II
-
28pWB-4 有機超伝導体の一軸性圧力効果
-
BL4B-2の多連装計数装置(MDS)粉末回折計による(NdCe)_2CuO_4の解析
-
31p-PS-126 正方晶YBa_2Cu_3O_yのマキシマムエントロピー法により求めた電子密度分布について
-
25aE-1 有機超伝導体κ-(BEDT-TTF)_2Cu[N(CN)_2]Brの同位体効果 V
-
27p-N-7 有機超伝導体κ-(BEDT-TTF)_2Cu[N(CN)_2]Brの同位体効果IV
-
12p-T-10 ロッシェル塩結晶のX線トポグラフII
-
14p-DL-3 MEMによるウルツァイト型構造ZnOの電子密度
-
1p-E-3 Si 単結晶中の不純物原子の析出 (III)
-
9a-D-7 Si単結晶中の不純物原子の析出(II)
-
5a-E-4 Si単結晶中の不純物原子の析出
-
ビジョン ロストック大学訪問記
-
31p-TJ-10 X線異常分散による高温超伝導物質中の添加物の構造解析
-
20aXE-14 β-(BDA-TTP)_2FeCl_4 の圧力下磁気測定
-
28aZA-7 β-(BDA-TTP)_2SbF_6 のフェルミオロジーと超伝導
-
6a-B5-3 断面TEM像の光回折による結晶表面構造の評価
-
19aYM-3 マグネタイトATS散乱における四面体、八面体サイトの寄与(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
19aYM-2 Fe_3O_4とNiFe_2O_4におけるATS散乱の比較(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
21aXB-8 エスコライト (Cr_2O_3) とヘマタイト (Fe_2O_3) における ATS 散乱の比較
-
21aXB-7 アナターゼとルチル (TiO_2) における ATS 散乱の比較
-
28p-M-8 マキシムエントロピー法により求めた氷(I_h)の電子密度分布
-
20pTJ-7 集積型銅錯体細孔中の酸素ラダーの構造
-
23aYH-6 モデルフリーなMEM解析によるフラーレン化合物の構造決定
-
25a-S-11 単結晶中性子回折データを用いたマキシマム・エントロピー法によるBeの熱振動の直接決定
-
27a-ZE-4 hcp金属の電子密戸分布と層構造について
-
29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
-
31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
-
14p-DL-2 マキシマムエントロピー法によるCs_3CoCl_5の偏極中性子回折データの解析
-
6a-X-1 構造相転移とモデルフリーな構造解析
-
4a-B5-11 Maximum Entropy法による精密結晶構造解析II
-
4a-TA-7 放射光とIPの組合せによる粉末X線回折について
-
温度因子と非調和熱振動
-
放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定
-
SnO2の原子核密度分布と非調和熱振動
-
MEMにより求めたYBa2Cu3Oyの電子密度分布について
-
MgベースLaves相合金の電子密度分布
-
Laves相合金MgCu2のMEMによる電子密度
-
Na-Fe-B素B-rich相の変調構造
-
27a-L-10 マキシマムエントロピー法による核密度分布について
-
27a-L-9 温度変化による差密度分布の直接観察
-
フォトン・ファクトリーにおける水平型X線回折計による実験―物性低温グループ
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
Optical Type Huang Scattering Induced by Short-range Ordering of Vacancies in NbC0.72
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
1a-D-11 非晶質合金Ni_Nb_のChemical Short Range Order
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
28p-EB-4 イオン注入したシリコンによるブラグ反射プロファイルの変化(X線・粒子線)
-
31a-Q-2 BaSi_2とSrSi_2の電子密度分布(31aQ 金属,金属)
-
30p-TH-1 Maximum Entropy法におけるSuper Resolutionについて(30pTH X線・粒子線)
-
1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
-
31a-M3-5 マキシマム・エントロピー法による精密結晶構造解析(X線・粒子線)
-
28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)
-
タイトル無し
-
1a-A3-7 エネルギー分散型X線回折法によるGaAsのAsの分析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク