31a-M3-5 マキシマム・エントロピー法による精密結晶構造解析(X線・粒子線)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 1988-03-31
著者
関連論文
- 2a-S-4 X線回折によるアルカリ金属ドープC_60の電子密度
- 2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
- 5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
- 2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
- 3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
- 3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
- 4a-BC-10 KENS FOXにおけるデータ処理
- 1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
- 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
- 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
- 11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
- 11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
- 温度因子と非調和熱振動
- 3a GG-10 CsPbX_3のM_3モード凍結とCubic相における異方的非調和熱振動
- 1a-BD-12 CsPbBr_3 立方昌の結晶構造と温度因子
- 11a-J-3 CsPbX_3の温度因子の非調和性
- 6a-B-9 CuCl熱振動の非調和性 : 中性子線回折による
- 5a-B-12 TDSの補正 II
- 10p-T-2 TDSの補正
- 10a-P-11 正方晶系チタン酸バリウムのキュリー点近傍での中性子回折による温度因子
- 31p-TJ-6 選択配向性のある粉末X線データのMEMによる解析
- 5a-P-10 MEMによるab initio粉末構造解析の試み
- 31p-PS-126 正方晶YBa_2Cu_3O_yのマキシマムエントロピー法により求めた電子密度分布について
- 14p-DL-3 MEMによるウルツァイト型構造ZnOの電子密度
- 28p-M-8 マキシムエントロピー法により求めた氷(I_h)の電子密度分布
- 23aYH-6 モデルフリーなMEM解析によるフラーレン化合物の構造決定
- 25a-S-11 単結晶中性子回折データを用いたマキシマム・エントロピー法によるBeの熱振動の直接決定
- 27a-ZE-4 hcp金属の電子密戸分布と層構造について
- 29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
- 31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
- 14p-DL-2 マキシマムエントロピー法によるCs_3CoCl_5の偏極中性子回折データの解析
- 6a-X-1 構造相転移とモデルフリーな構造解析
- 4a-B5-11 Maximum Entropy法による精密結晶構造解析II
- 4a-TA-7 放射光とIPの組合せによる粉末X線回折について
- 温度因子と非調和熱振動
- 放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定
- SnO2の原子核密度分布と非調和熱振動
- MEMにより求めたYBa2Cu3Oyの電子密度分布について
- MgベースLaves相合金の電子密度分布
- Laves相合金MgCu2のMEMによる電子密度
- 27a-L-10 マキシマムエントロピー法による核密度分布について
- 27a-L-9 温度変化による差密度分布の直接観察
- フォトン・ファクトリーにおける水平型X線回折計による実験―物性低温グループ
- タイトル無し
- タイトル無し
- Optical Type Huang Scattering Induced by Short-range Ordering of Vacancies in NbC0.72
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- 1a-D-11 非晶質合金Ni_Nb_のChemical Short Range Order
- タイトル無し
- タイトル無し
- 28p-EB-4 イオン注入したシリコンによるブラグ反射プロファイルの変化(X線・粒子線)
- 31a-Q-2 BaSi_2とSrSi_2の電子密度分布(31aQ 金属,金属)
- 30p-TH-1 Maximum Entropy法におけるSuper Resolutionについて(30pTH X線・粒子線)
- 1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 31a-M3-5 マキシマム・エントロピー法による精密結晶構造解析(X線・粒子線)
- 28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)
- タイトル無し
- 1a-A3-7 エネルギー分散型X線回折法によるGaAsのAsの分析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)