28p-G-2 整数量子ホール効果状態のbreakdown現象 : 試料依存性(28pG 半導体(量子ホール効果,超格子))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 1989-03-28

著者

• 高増 正

  東大教養

• 小宮山 進

  東大教養

• 冷水 佐寿

  富士通厚木研

• 佐々 誠彦

  富士通厚木研

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