C-12-17 ミリ波帯低インピーダンス素子のシャント接続測定の検討(CMOSミリ波技術,C-12.集積回路,一般セッション)

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概要

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• 一般社団法人電子情報通信学会の論文
• 2013-09-03

著者

• 岡田 健一

  東京工業大学

• 松澤 昭

  東京工業大学

• 河合 誠太郎

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

• 眞木 翔太郎

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

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