30p-H-10 電子線励起X線全反射角分光法によるSi、Ge表面の吸着過程と構造の研究 II(表面・界面)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 1987-03-27

著者

• 井野 正三

  東大理

• 大門 寛

  東大理

• 松本 裕敦

  東大 理

• 福谷 克之

  東大理

• 松本 裕敦

  東大理

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