25p-Y-4 入射角依存RHEED-TRAXSによるSi(111)上の金属の深さ分布の測定

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1992-09-14

著者

• 長谷川 修司

  東大理

• 井野 正三

  東大理

• 山中 俊郎

  東大理

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