31a-WC-7 In/Si(111)√3x√3-Ga表面構造におけるUHV-SEMコントラストとX線強度の測定

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1994-03-16

著者

• 長谷川 修司

  東大理

• 井野 正三

  宇都宮大学サテライトベンチャービジネスラボラトリ

• 山中 俊朗

  北大触媒セ

• 山中 俊朗

  北大 触媒化学研究セ

• 井野 正三

  東大理

• 下村 尚治

  東大理

• 山中 俊朗

  東大理

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