山中 俊朗 | 東大理
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概要
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著作論文
- 31a-WC-7 In/Si(111)√3x√3-Ga表面構造におけるUHV-SEMコントラストとX線強度の測定
- 28p-PSB-16 RHEED-TRAXS法によるSi(111)上での2種金属の加熱時における成長様式の観察
- 15a-DH-6 Si(111)√×√-GaにInを吸着させた表面のUHV-SEMによる観察
- 6p-T-2 RHEED-TRAXSを使った表面構造解析装置の作製
- 12p-DL-8 電子線定在波を使った新しい方法による表面構造解析
- 30p-TA-1 入射角依存RHEED-TRAXSによるSi(111) : 金属吸着構造の研究
- 15a-DH-5 Si(111)上の2種の金属の成長モードとUHV-SEMによる観察
- 29a-M-8 RHEED-TRAXSのよるSi(111)上の2種の金属の深さ分布と成長モードの研究
- 27a-ZS-9 入射角依存RHEED-TRAXSによるSi(111)上のAu, Agの深さ分布の測定
- 27a-ZD-8 入射角依存RHEED-TRAXS装置の改良と精密測定