27a-ZS-9 入射角依存RHEED-TRAXSによるSi(111)上のAu, Agの深さ分布の測定

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1992-03-12

著者

• 長谷川 修司

  東大理

• 山中 俊朗

  北大触媒セ

• 遠藤 彰

  東京大学理学部

• 山中 俊朗

  北大 触媒化学研究セ

• 井野 正三

  東大理

• 下村 尚治

  東大理

• 山中 俊朗

  東大理

• 遠藤 彰

  東大理

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