24pCE-1 超短パルス電子加速器を用いる光子誘起陽電子寿命測定法の開発(24pCE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
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概要
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- 2012-03-05
著者
-
大島 永康
産総研
-
黒田 隆之助
産業技術総合研究所
-
黒田 隆之助
産総研
-
大島 永康
産業技術総合研究所
-
鈴木 良一
産業技術総合研究所
-
大島 永康
産業技術総合研 計測フロンティア研究部門
-
大島 永康
理化学研究所
-
豊川 弘之
産業技術総合研究所
-
豊川 弘之
産業技術総合研
-
オローク ブライアン
産業技術総合研究所
-
林崎 規託
東京工学大学
-
峰原 英介
若狭湾エネルギー研究センター
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