24pCK-3 Bi/Si(111)薄膜における表面電子スピン偏極度の膜厚依存性(24pCK 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2012-03-05

著者

• 高山 あかり

  東北大院理

• 相馬 清吾

  東北大WPI

• 佐藤 宇史

  東北大院理

• 高橋 隆

  東北大院理

• 小口 多美夫

  阪大産研

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