有機トランジスタにおける曲げ効果の評価(TFT(有機,酸化物),一般)
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概要
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曲げ変形による特性の変化に対して、トランジスタの構造がどのように影響を及ぼすのか調査するために、絶縁膜の膜厚とチャネル長を変化させ、曲げ変形を加えた状態で電気的特性を測定した。その結果、絶縁膜の膜厚を変化させた実験では、絶縁膜の膜厚を薄くすることで電流値の変化が大きくなり、絶縁膜の膜厚は電流変化率には依存していないことが明らかになった。チャネル長を変化させた実験では、チャネル長を短くすると電流値の変化が大きくなり、電流変化率も大きくなることが明らかになった。さらに、曲げ変形時のみ特性が変化し、元の形に戻すと特性が元に戻る可逆的な特性の変化が得られたことから、有機トランジスタの曲げセンサへの応用の可能性が示された。
- 2012-04-11
著者
-
熊木 大介
山形大・理工学研究科
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奥 慎也
山形大学大学院理工学研究科
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福田 憲二郎
山形大学大学院理工学研究科
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熊木 大介
山形大学大学院理工学研究科
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水上 誠
山形大学大学院理工学研究科
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時任 静士
山形大学大学院理工学研究科
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引地 健太
山形大学大学院理工学研究科
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時任 静士
山形大学大学院:山形大学有機エレクトロニクス研究センター
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福田 憲二郎
山形大学大学院:山形大学有機エレクトロニクス研究センター
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熊木 大介
山形大学大学院:山形大学有機エレクトロニクス研究センター
-
福田 憲二郎
山形大学大学院理工学研究科:山形大学有機エレクトロニクス研究センター
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