FDTD法を用いたキットモジュール測定用回路の1GHz超の電流分布解析(通信,EMC,一般)
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概要
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VCCIでは,ハードディスクやメモリ等のキットモジュールからの妨害波を給電線上に現れる妨害波電流レベルにより評価する方法を提案して運用している.近年,電子機器の高速化により,1GHz以上においても妨害波を放射するようになり,キットモジュール測定においても1GHz以上の測定法の検討が必要になっている.キットモジュールの測定ではマイクロストリップ線路をチップコンデンサでデカップリングしたテストボードを使用するが,1GHz以上の周波数では,線路上に発生する定在波の影響により電流レベルが変化してしまう.この影響を防ぐためには,線路上の多くの点で電流を測定し,その最大値を求める必要がある.また,チップコンデンサは,1GHz以上では,その機能を果たしているか検討が必要である.本報告ではFDTD法を用いて電流分布の解析を行い測定結果と比較を行っている.その結果,測定用の回路を適切に構成すれば,デカップリング用のチップコンデンサに近い位置で測定を行えば約1dB以内の精度で最大値を測定することが可能なことがわかった.
- 2012-01-20
著者
-
桑原 伸夫
九州工業大学
-
桑原 伸夫
九州工大 大学院工学府
-
桑原 伸夫
九州工業大学大学院工学府電気電子工学専攻
-
島先 敏貴
日本電気エンジニアリング株式会社
-
桑原 伸夫
九州工業大学工学部電気工学科
-
村松 秀則
Necアクセステクニカ株式会社
-
桑原 伸夫
Ntt マルチメディアネットワーク研
-
桑原 伸夫
九州工業大学大学院工学府
-
阿部 善彦
九州工業大学大学院
-
島先 敏貴
Necエンジニアリング
-
村松 秀則
VCCI協会
-
桑原 伸夫
九州工業大学大学院工学研究院
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