23pRL-6 電場誘起ESRによるルブレン単結晶トランジスタ界面のトラップ状態解析(23pRL 界面デバイス1,領域7(分子性固体・有機導体))
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概要
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- 2010-08-18
著者
-
岩佐 義宏
東北大金研
-
岩佐 義宏
東京大学大学院工学系研究科
-
黒田 新一
名大院工
-
竹谷 純一
阪大理
-
竹延 大志
東北大金研
-
田中 久暁
名大院工
-
丸本 一弘
筑波大院数物
-
岩佐 義宏
東大 工
-
岩佐 義宏
東北大 金属材料研
-
岩佐 義宏
東北大学金属材料研究所
-
岩佐 義宏
東大院工
-
新井 徳道
筑波大院数物
-
下位 幸弘
産総研ナノテク
-
丸本 一弘
筑波大院数物:jstさきがけ
-
竹延 大志
東北大 金属材料研
-
岩佐 義宏
北陸先端科学技術大学院大学材料科学研究科
-
竹谷 純一
阪大産研
-
辻 大毅
筑波大院数物
-
竹延 大志
早大院理工
-
下位 幸弘
産総研ナノシステム
-
竹谷 純一
阪大産研:阪大院利
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