C-3-71 LiNbO_3強度変調器の低周波領域における半波長電圧とチャープパラメータの周波数特性測定(C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)

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概要

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• 2010-03-02

著者

• 川西 哲也

  情報通信研究機構新世代ネットワーク研究センター

• 川西 哲也

  情報通信研究機構

• 川西 哲也

  情報通信研究機構(nict)

• 戸田 裕之

  同志社大学理工学部

• 戸田 裕之

  同志社大学大学院工学研究科

• 戸田 裕之

  Department Of Electronics Faculty Of Sciences And Engineering Doshisha University

• 戸田 裕之

  同志社大学大学院 工学研究科

• 川西 哲也

  独立行政法人 情報通信研究機構

• 川西 哲也

  (独)情報通信研究機構新世代ネットワーク研究センター

• 岩田 浩幸

  同志社大学大学院工学研究科

• 吉川 雅久

  同志社大学大学院工学研究科

• 川西 哲也

  (独)情報通信研究機構 光ネットワーク研究所

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