変調光スペクトルによるマッハツェンダー変調器の詳細特性測定(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術、受光デバイス,高光出力伝送技術,一般,(ECOC報告))
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概要
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半波長電圧、チャープパラメーター、消光比などのMZ光変調器の性能を表す各種指標の高精度測定方法について議論する。近年、アクティブトリミングにより、消光比70dB以上、チャープパラメーター0.01以下などが報告されており、従来にない超高精度光制御が達成されている。また、256QAMなどの複雑な変調方式においては、既存方式に比べて高い精度での変調の必要性が指摘されている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-10-16
著者
-
村田 博司
大阪大学大学院基礎工学研究科電子光科学領域
-
川西 哲也
情報通信研究機構新世代ネットワーク研究センター
-
川西 哲也
情報通信研究機構
-
川西 哲也
情報通信研究機構(nict)
-
坂本 高秀
(独)情報通信研究機構
-
千葉 明人
(独)情報通信研究機構
-
千葉 明人
情報通信研究機構
-
坂本 高秀
情報通信研究機構
-
戸田 裕之
同志社大学理工学部
-
榎原 晃
兵庫県立大学大学院工学研究科
-
榎原 晃
松下電器産業株式会社
-
戸田 裕之
同志社大学大学院工学研究科
-
戸田 裕之
Department Of Electronics Faculty Of Sciences And Engineering Doshisha University
-
戸田 裕之
同志社大学大学院 工学研究科
-
榎原 晃
兵庫県立大学 大学院工学研究科
-
村田 博司
大阪大学大学院基礎工学研究科
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