28aRB-3 SHG干渉顕微鏡を用いた強誘電体3次元ドメイン構造の可視化条件(28aRB 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2009-03-03

著者

• 上江洲 由晃

  早大先進理工

• 上江洲 由晃

  早稲田理工

• 上江州 由晃

  早大理工

• 金城 純一

  早大先進理工

• 金城 純一

  早大大学院理工

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