22pGN-4 走査型SHG顕微鏡による複屈折を考慮した強誘電体ドメイン構造解析(22pGN 酸化物・ペロヴスカイト,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
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概要
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- 2011-08-24
著者
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上江洲 由晃
早大理工
-
上江洲 由晃
早大先進理工
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上江洲 由晃
早稲田大学理工
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上江洲 由晃
早稲田理工
-
金城 純一
早大先進理工
-
金城 純一
早大理工
-
上江洲 由晃
早稲田大学先進理工学研究科
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金城 純一
早大大学院理工
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