非接触測定による動作中ICの電流分布に関する実験的検討(マイクロ波信号発生と計測技術/一般)
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概要
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近年,電子機器の急速な発展に伴いLSI(Large Scale Integration)の微細化が急速に進んでいる.しかしながら,低電圧化によるノイズマージンの低下,信号の高速化によるLSIからの不要放射などの問題を抱えるようになり,電磁波ノイズが他の電子機器に与える影響が問題視されている.本研究では,このような不要電磁波放射の要因の一つとして,電子回路基板上を流れる高周波電流に着目し,その電流分布の推定法について検討を行ってきた.本報告では,電子回路基板に実装された動作状態におけるIC表面の二次元磁界分布を測定し,その測定結果からICの電流分布を推定した.その結果,周波数帯の違いにより電流密度および電流分布が,それぞれ異なる様子が確認できた.
- 2009-06-23
著者
-
橋本 修
青山学院大学
-
橋本 修
青山学院大 理工
-
渡辺 拓人
青山学院大学
-
橋本 修
青山学院大学理工学部電気電子工学科
-
橋本 修
青山学院大学大学院理工学研究科電気電子工学コース
-
渡辺 拓人
青山学院大学大学院
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