20aPS-35 Si(775)表面上に形成されたAu/Si(111)5×2構造の安定性評価(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 渡邉 聡

  東大工

• 野田 真史

  分子研

• 門平 卓也

  東大工:科学技術振興機構crest

• Fischer Chris

  Mit

• 野田 真史

  東大工

• Ceder Gerbrand

  MIT

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