C-5-8 マイクロ波帯相互変調ひずみを用いたビア性能評価(C-5.機構デバイス,一般講演)

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概要

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• 2007-03-07

著者

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院工学府

• 土井 充

  横浜国立大学大学院工学府

• 山本 泰之

  横浜国立大学大学院工学府

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院

• 久我 宣裕

  横浜国立大学 工学部

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