山本 泰之 | 横浜国立大学大学院工学府
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概要
関連著者
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久我 宣裕
横浜国立大学大学院工学府
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山本 泰之
横浜国立大学大学院工学府
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久我 宣裕
横浜国立大学大学院
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久我 宣裕
横浜国立大学 工学部
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小倉 裕俊
横浜国立大学大学院工学府
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土井 充
横浜国立大学大学院工学府
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久我 宣裕
横浜国立大学
著作論文
- C-5-8 マイクロ波帯相互変調ひずみを用いたビア性能評価(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-2 金属材料で発生する相互変調ひずみの温度依存性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- CS-5-1 鉛フリーはんだ鍍金された導体材料の受動相互変調ひずみ特性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- C-5-7 定在波を用いたPIM測定法の整合系回路への適用に関する検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-6 平行平板キャパシタで先端短絡された伝送線路を用いたPIM測定(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-3 先端短絡伝送線路を用いたマイクロ波電気接点のPIM特性評価(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- C-5-6 先端短絡伝送線路を用いた線状導体のPIM特性評価(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-1 マイクロストリップ線路の導体抵抗に対するPIM依存性評価(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- B-1-93 抵抗系負荷の受動相互変調歪特性(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般), 通信1)