定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価
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概要
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本研究では,低PIM試料の評価に有効な定在波同軸管法を用いて,プリント基板の非接触PIM特性評価を行っている.まず評価に用いる試料形状の検討として,基板銅箔幅の発熱やSN比,PIMレベルの時間安定性への影響を考察した.導体幅の異なる試料が同一のPIMを発するように入力電力を調節し,PIM測定を行った.ここでは,細い導体試料を低電力励振することで発熱が低減しSN比が向上すること,しかし銅箔加工精度によりPIMが時間不安定になりやすいことを確認した.次に銅箔の粗度が異なる基板のPIM特性評価を行った.低粗度の場合PIMレベルが減少すること,しかし低レベルとなるために試料の特性のばらつきが大きくなることを確認した.
- 2012-01-13
著者
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院工学府
-
石橋 大二郎
横浜国立大学大学院工学府
-
星野 啓太
横浜国立大学大学院工学府
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院
-
齋藤 健介
横浜国立大学大学院工学府
-
星野 啓太
横浜国立大学大学院
-
久我 宣裕
横浜国立大学 工学部
-
久我 宣裕
横浜国立大学工学部
-
石橋 大二郎
横浜国立大学大学院 工学府
-
久我 宣裕
横浜国立大学
-
石橋 大二郎
横浜国立大学
-
齋藤 健介
横浜国立大学大学院 工学府
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