C-5-3 先端短絡伝送線路を用いたPIM測定における損失系負荷の影響(C-5.機構デバイス,一般講演)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2007-08-29

著者

• 山田 貴之

  横浜国立大学大学院工学府

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院工学府

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院

• 久我 宣裕

  横浜国立大学 工学部

• 久我 宣裕

  横浜国立大学

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