CS-6-1 定在波同軸管法による電気接点のPIM特性測定 : 試料と同軸管の結合量補正(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2010-08-31
著者
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院工学府
-
石橋 大二郎
横浜国立大学大学院工学府
-
久我 宣裕
横浜国立大学大学院
-
久我 宣裕
横浜国立大学 工学部
-
石橋 大二郎
横浜国立大学大学院 工学府
-
久我 宣裕
横浜国立大学
-
石橋 大二郎
横浜国立大学
関連論文
- ダイオードを相互変調ひずみ源として内蔵したパッチアンテナ (高度化するワイヤレスシステムを支えるアンテナ・伝搬技術論文特集)
- PIMソースを内蔵したパッチアンテナの構成法(アダプティブアンテナ,等化,干渉キャンセラ,MIMO,無線通信,一般)
- B-1-75 指輪型アンテナの装着位置に対する特性依存性の評価(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- B-1-126 指上への設置に適した折り曲げゲートアンテナの特性(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般講演)
- C-5-3 先端短絡伝送線路を用いたPIM測定における損失系負荷の影響(C-5.機構デバイス,一般講演)
- B-1-143 反射板を用いた部分球面走査放射効率測定(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般講演)
- 電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定(放電・EMC/一般)
- C-5-2 帯状導体で発生する相互変調ひずみのFDTD解析(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-7 FORWAD測定による受動回路相互変調ひずみの次数依存性評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 FDTD法を用いた受動回路の相互変調ひずみにおける線形抵抗の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析(放電・回路/一般)
- B-1-77 低相互変調ひずみ終端に関する一考察(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- C-5-10 同軸コネクタ中心ピン長の相互変調ひずみ特性に対する影響評価(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 FDTD法による磁性体から発生する相互変調ひずみ解析(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法
- マイクロ波定在波伝送線路を用いた高周波材料の非接触PIM特性評価
- C-5-8 マイクロ波帯相互変調ひずみを用いたビア性能評価(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-2 金属材料で発生する相互変調ひずみの温度依存性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- CS-5-1 鉛フリーはんだ鍍金された導体材料の受動相互変調ひずみ特性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- ダイオードを相互変調ひずみ源として内蔵したパッチアンテナ(高度化するワイヤレスシステムを支えるアンテナ・伝搬技術論文)
- 組み合わせ型偏波ダイバーシチアンテナの相互結合抑制法
- 偏波ダイバーシチ受信用組み合わせアンテナ
- 導体柱側面に設置されたモノポールアレーによるヌルパターン制御アンテナ(アダプティブアンテナ,MIMO及び無線信号処理技術,無線通信一般)
- C-5-17 線路端部での非接触プロービングPIM測定の解析的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-2-68 スリットを装荷した並行結合フィルタの動作原理(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- B-1-65 パッチアンテナに装荷されたダイオードから発生する相互変調ひずみの電力飽和特性(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- B-1-118 PIM源付き無給電素子を装荷したパッチアンテナの特性(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- ダイオード付き円板モノポールアンテナの相互変調ひずみ特性 (アンテナ・伝播)
- 電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定(放電・EMC/一般)
- B-1-140 ゲートアンテナ2素子を用いた単方向指向性アンテナ(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般講演)
- C-5-7 定在波を用いたPIM測定法の整合系回路への適用に関する検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-6 平行平板キャパシタで先端短絡された伝送線路を用いたPIM測定(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-3 先端短絡伝送線路を用いたマイクロ波電気接点のPIM特性評価(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- C-5-6 先端短絡伝送線路を用いた線状導体のPIM特性評価(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-1 マイクロストリップ線路の導体抵抗に対するPIM依存性評価(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
- B-1-93 抵抗系負荷の受動相互変調歪特性(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般), 通信1)
- C-5-1 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- B-1-77 800MHz帯における相互変調ひずみ源付きパッチアンテナの特性(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- B-1-65 リッジ導波管広壁面上への円偏波ハの字スロッアンテナの構成法(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- CS-6-2 プリントストリップ導体のPIM特性評価における試料形状の決定法(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
- CS-6-1 定在波同軸管法による電気接点のPIM特性測定 : 試料と同軸管の結合量補正(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
- C-5-3 故障チップデバイスの検出におけるループプローブの効果(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-6 同軸プローブを用いた非接触PIM測定の感度に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 PIMを用いたパッケージ内部に含まれる接続不良検出の基礎検討(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- C-5-2 微小ループプローブを用いた非接触PIM源位置特定(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察 (機構デバイス)
- C-2-60 スリット付き平行結合マイクロストリップフィルタを用いた3次Forwrad-PIM測定(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- B-1-131 人体方向に主放射を有する指輪型アンテナの検討(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- 阻止域を有する地板端部設置広帯域板状モノポールアンテナ(アンテナ設計技術)(ワイヤレスパーソナル通信におけるアンテナ・伝搬の最新技術論文特集)
- 外部衝撃に対して同軸接点で発生する相互変調歪みの測定(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価 (機構デバイス)
- C-5-6 複数のPIM源を有する導体試料の相互変調ひずみ特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-5 定在波同軸管法とインピーダンス整合法におけるPIM源寸法の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- B-1-138 クロスライン型PIM測定系のシステムノイズ低減に関する検討(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- C-2-86 PIM測定用定在波同軸管の等価回路(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- C-5-4 タッピングされた同軸コネクタのPIM特性変化に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- B-1-154 ダイオードを装荷したパッチアンテナから発生する相互変調ひずみの電力飽和に関する考察(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- B-1-227 PIM源付きパッチアンテナを用いた小型電波暗箱の性能評価(B-1.アンテナ・伝播C(アンテナシステム),一般セッション)
- C-5-5 定在波同軸管法におけるプリントストリップ導体の電気長計算法(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- B-1-58 複スロットによる円偏波ハの字スロットアンテナの軸比特性広帯域化(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1)
- 相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察
- 定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価
- 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析(放電・回路/一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(2)
- ダイオード付き円板モノポールアンテナの相互変調ひずみ特性
- PIM測定環境評価用ダイオード付き楕円板状モノポールアンテナ(アンテナ,高度で多様化する無線通信を支えるアンテナ・伝搬技術論文)
- リッジ導波管の広壁面上に構成された円偏波直交スロットアンテナ(アンテナ,高度で多様化する無線通信を支えるアンテナ・伝搬技術論文)
- B-1-175 リッジ導波管円偏波スロットアンテナの放射量制御法(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- C-5-12 下側2次相互変調ひずみ測定用送受信共用器の設計(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-10 定在波同軸管法における導体損失と非線形性の発生PIMへの影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 定在波同軸管法を用いたPIM測定におけるPIM源寸法と消費電力に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- 同軸管を用いた相互変調ひずみ測定に対する送信波整合状態の影響評価 (機構デバイス)
- アンテナのPIM測定における外部IM源の影響に関する実験的考察 (アンテナ・伝播)
- アンテナのPIM測定における外部IM源の影響に関する実験的考察 (放送技術)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (有機エレクトロニクス)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (電子部品・材料)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (機構デバイス)
- 2面合成型オムニ指向性アンテナの指向性帯域改善
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)
- BT-5-5 移動体通信アンテナシステムにおけるPIM測定(BT-5.次世代の無線関連設備・機器の試験・認証・校正を支える最新計測技術,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- C-5-6 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象(2) : タッピング・デバイスのモデル(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 同軸管を用いた相互変調ひずみ測定に対する送信波整合状態の影響評価
- アンテナのPIM測定における外部IM源の影響に関する実験的考察(放送技術,一般)
- リッジ導波管リッジ面上に構成されたT型スロットアンテナ(一般,電波伝搬,一般)
- C-5-3 定在波同軸管法における受信波波整合状態の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-2 コネクタはんだ接続のPIM評価における静荷重と動荷重の影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- B-1-76 リッジ導波管リッジ面上円偏波T型スロットアンテナの構成法(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- 定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価
- リッジ導波管リッジ面上に構成されたT型スロットアンテナ(無線システムの進展の基盤となるアンテナ・伝搬技術論文)
- 定在波同軸管を用いたプリント基板の相互変調ひずみ測定の高感度化(高密度実装を牽引する材料技術とヘテロインテグレーション論文)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)