石橋 大二郎 | 横浜国立大学大学院工学府
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概要
関連著者
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石橋 大二郎
横浜国立大学大学院工学府
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久我 宣裕
横浜国立大学大学院工学府
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久我 宣裕
横浜国立大学大学院
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久我 宣裕
横浜国立大学 工学部
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久我 宣裕
横浜国立大学
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石橋 大二郎
横浜国立大学
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石橋 大二郎
横浜国立大学大学院 工学府
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齋藤 健介
横浜国立大学大学院工学府
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久我 宣裕
横浜国立大学工学部
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齋藤 健介
横浜国立大学大学院 工学府
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星野 啓太
横浜国立大学大学院工学府
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星野 啓太
横浜国立大学大学院
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富菜 将基
横浜国立大学大学院工学府
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熊谷 和樹
横浜国立大学大学院工学府
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熊谷 和樹
横浜国立大学工学部
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和田 真一
TMCシステム
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越田 圭治
TMCシステム
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ノロブリン サインダー
TMCシステム
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久保田 洋彰
TMCシステム
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小田部 正能
TMCシステム(株)
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ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
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吉田 翔
横浜国立大学大学院工学府
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天野 一輝
横浜国立大学大学院工学府
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石塚 大貴
TMCシステム
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柳 国男
TMCシステム
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川述 真裕
TMCシステム
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小田部 正能
Tmcシステム
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竹田 弘毅
TMCシステム株式会社
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竹田 弘毅
TMCシステム
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越田 圭治
TMCシステム株式会社市場開発本部
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越田 圭治
TMCシステム株式会社
著作論文
- C-5-2 帯状導体で発生する相互変調ひずみのFDTD解析(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 FDTD法を用いた受動回路の相互変調ひずみにおける線形抵抗の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析(放電・回路/一般)
- C-5-8 FDTD法による磁性体から発生する相互変調ひずみ解析(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- C-5-17 線路端部での非接触プロービングPIM測定の解析的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-6-1 定在波同軸管法による電気接点のPIM特性測定 : 試料と同軸管の結合量補正(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
- C-5-6 複数のPIM源を有する導体試料の相互変調ひずみ特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-5 定在波同軸管法とインピーダンス整合法におけるPIM源寸法の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-4 タッピングされた同軸コネクタのPIM特性変化に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察
- 定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価
- 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析(放電・回路/一般)
- C-5-10 定在波同軸管法における導体損失と非線形性の発生PIMへの影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 定在波同軸管法を用いたPIM測定におけるPIM源寸法と消費電力に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (有機エレクトロニクス)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (電子部品・材料)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 (機構デバイス)
- 2面合成型オムニ指向性アンテナの指向性帯域改善
- C-5-6 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象(2) : タッピング・デバイスのモデル(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 同軸管を用いた相互変調ひずみ測定に対する送信波整合状態の影響評価
- C-5-2 コネクタはんだ接続のPIM評価における静荷重と動荷重の影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価
- 定在波同軸管を用いたプリント基板の相互変調ひずみ測定の高感度化(高密度実装を牽引する材料技術とヘテロインテグレーション論文)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
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