On Chip ProbeによるLSIの信号伝播波形の測定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
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概要
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デジタル回路における配線遅延は、デザインルールが微細化に伴い、Lの影響を考慮しなければならない状況が生じている。このため、配線遅延を近似するためには従来用いられてきたのとは異なる手法が求められている。本報告では、信号伝搬の波形を直接測定することにより、近似の基盤となるデータを得ることを目的として、チップ上にFETプローブを作成し、数々の配線について、リングオシレータの出力を測定した結果について発表する。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2006-11-28
著者
-
橘 昌良
高知工科大学工学部電子・光システム工学科
-
橘 昌良
高知工科大学大学院工学研究科電子・光システム工学コース
-
橘 昌良
高知工科大学
-
川越 伸一
高知工科大学大学院工学研究科電子・光システム工学コース
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