FDTD法による空洞共振器を用いた誘電率測定に関する検討(2) : 試料の挿入孔が誘電率推定に与える影響
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概要
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摂動法による矩形空洞共振器を用いた誘電率、透磁率の測定においては、試料が大きいか、あるいはその誘電率が大きい場合には摂動法の仮定が成り立たなくなることから、大きな誤差が生じることが知られている。筆者らは、この誘電率測定について、試料の大きさと誘電率による依存性について既に報告を行った。しかし、実際の誘電率測定においては、微少試料を空洞共振器内部に設置するため、共振器壁には挿入孔が存在する。本来、空洞共振器にはその寸法に固有の共振周波数が与えられるが、試料挿入孔の存在によってその構造が変化するため、誘電率の推定に影響を与えることが予想される。そこで本研究においては、3次元の電磁界解析手法として有効なFDTD法を空洞共振器に適用し、試料挿入孔が誘電率測定に与える影響について検討を行なっている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-09-05
著者
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