反転構造薄膜EL素子の光学シミュレーション解析 : 背面電極材料依存性
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概要
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発光源を含む多層薄膜構造に対する光学解析ツールの開発を目的とし、多重発光干渉効果と光学多層膜の特性マトリクス計算を組み合せた4分割モデルを考案し、広帯域発光を特徴とするZnS:Mn黄色およびSrS:Ce/ZnS:Mn白色EL素子の発光特性解析に適用した。本報告では特に背面電極の反射特性が輝度、色調、発光効率、コントラスト比などに及ぼす影響を調べ、反転構造に多用される低反射電極の効果を定量化した。その結果、従来のAl電極を低反射電極(ITO,Mo)に代えた場合、輝度は1/3以下にまで低下する場合があるため、反転構造に適した光学再設計が必要であること、カラーフィルター方式によるマルチカラー化では電極反射率の増大に伴う色調の視角特性劣化が顕在化し、特に赤色発光が画質を律速する第1要因となることが分った。更に光取出し効率とパネル反射率から求めたコントラスト評価では背面実効反射率が0.2以下でコントラスト比が大きく向上しており、総合的表示品位と特性安定化の観点ではITOなどの低反射背面電極採用の方が返って良好な発光特性が得られ、特にコントラスト重視の用途に適するものと判断される。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-10-22
著者
-
三上 明義
金沢工業大学光電磁場科学応用研究所
-
石川 貴博
金沢工業大学光電磁場科学応用研究所
-
三上 明義
金沢工業大学
-
山村 尚希
金沢工業大学、光電磁場科学応用研究所
-
山村 尚希
金沢工業大学光電磁場科学応用研究所
-
三上 明義
金沢工業大学大学院工学研究科
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