係数量子化による周波数特性劣化量とケプストラムモーメント変動量の関係
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概要
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係数量子化時の周波数特性劣化を調べることは、フィルタ実現の際の性能の評価として重要な作業である。本稿では、特性劣化の尺度としてケプストラムモーメントを用いる。そして、縦続形構成のFIRディジタルフィルタにおいて、阻止域周波数の解析を行い、ケプストラムモーメント変動量から簡単な実験演算で周波数特性劣化量が推定できることを示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
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