低コヒーレンス光源による後方強調光散乱
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概要
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時間的に揺らぎのあるランダム媒質に平面波を入射すると散乱されるが、その散乱光の時間平均を取ると、入射方向と全く逆方向に強い光が戻ってくることが分かる。この現象を後方強調光散乱という。ところが、ランダム媒質として時間的に揺らいでいないものを用いると、後方強調光散乱は光源のコヒーレンスに基づくランダムな干渉(スペックル)の影に隠れて観測できない。この場合は試料を面内方向に動かすことによって強制的に揺らぎを作り、散乱光の平均を取ることでスペックルを消して後方強調光散乱を観測する。しかし後方強調光散乱が見えるほどにスペックルを消すために、従来の方法では、サンプルを動かしながら撮影した数百枚のスペックルパターンの平均を取る必要があり、これには多くの時間と手間がかかる。そこで今回はこの手間を省くためにコヒーレンス度の異なる2種類の光源を用いて実験を行なった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11
著者
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