経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)

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概要

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• 近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な役割を担うようになってきた。我々のグループは、単一故障における様々な故障モード(縮退故障、オープン故障、ブリッジ故障)における故障診断手法を提案してきた。今回、多重故障において、故障伝播経路を分離・グループ分けして診断する手法を検討し、実製品に適用した結果が得られたので報告する。

• 2005-01-21

著者

• 重田 一樹

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 船津 幸永

  NECエレクトロニクステスト評価技術開発事業部

• 住友 洋志

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 船津 幸永

  Necエレクトロニクス テスト評価技術開発事業部

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