信頼性,評価 大規模LSIの故障診断手法の実用化 (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)

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概要

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著者

• 重田 一樹

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

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