回路分割バックトレース手法を用いた論理LSIの故障箇所推定手法

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概要

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• 近年、LSIの微細化や配線多層化が進み、物理的解析手段になるべく頼らずに、回路のNetlistとTest結果から故障箇所を推定する技術が重要になってきている。Test結果に含まれる故障出力から故障伝搬経路を追跡するバックトレース法はその一つであるが、膨大な数の故障伝搬経路が推定されるため大規模順序回路への適用は難しかった。筆者らは組合せ回路ブロックを故障出力に応じて動的に抽出して解析範囲を故障出力に関係する部分に限定し、推定された故障伝搬経路の選択処理により推定経路数の抑制を行なうバックトレース手法を提案し、20Kゲート規模のBenchmark回路に適用してその有効性を確認した。

• 1997-08-13

著者

• 重田 一樹

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 重田 一樹

  日本電気株式会社 材料部品分析評価センター

• 石山 敏夫

  日本電気株式会社 材料部品分析評価センター

• 石山 敏夫

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

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