ブロック間バックトレ-スを用いた論理LSIの故障箇所推定手法 (LSIの評価・解析技術特集) -- (ロジックLSIの故障・不良解析技術)

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概要

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著者

• 重田 一樹

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

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