重田 一樹 | Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

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概要

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関連著者

• 重田 一樹

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 船津 幸永

  NECエレクトロニクステスト評価技術開発事業部

• 住友 洋志

  Necエレクトロニクス(株) 基盤技術開発事業本部 テスト評価技術開発事業部

• 石山 敏夫

  NECエレクトロニクス(株)基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 船津 幸永

  Necエレクトロニクス テスト評価技術開発事業部

• 重田 一樹

  日本電気株式会社 材料部品分析評価センター

• 石山 敏夫

  日本電気株式会社 材料部品分析評価センター

著作論文

• 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 信頼性,評価 大規模LSIの故障診断手法の実用化 (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)
• 回路分割バックトレース手法を用いた論理LSIの故障箇所推定手法
• ブロック間バックトレ-スを用いた論理LSIの故障箇所推定手法 (LSIの評価・解析技術特集) -- (ロジックLSIの故障・不良解析技術)

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