極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析
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概要
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科学技術庁無機材質研究所で新たに開発した電子密度分布精密解析システムを用いて、C(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの単結晶試料について従来のX線より波長の遥かに短いWKα線(波長〜0.02nm)による回折スペクトルを測定し、その結果に基づいて各物質中の電子密度分布の解析を行い、得られた結果から同システムの利用により電子密度分布解析の分解能を著しく向上できることが明らかになった。
- 1994-05-19
著者
-
大嶋 健一
筑波大学物理工学系
-
雪野 健
無機材研
-
木野 幸浩
理学電機
-
山本 一樹
奈良女子大物理
-
岡村 富士夫
無機材研
-
山本 一樹
筑波大学
-
雪野 健
科学技術庁無機材質研究所
-
岡村 富士夫
無機材質研究所
-
岡村 富士夫
科学技術庁無機材質研究所
-
木野 幸浩
理学電気
-
雪野 健
無機材質研究所
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