2a-KK-1 結晶粒子の大きさとX線反射強度

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1984-03-12

著者

• 雪野 健

  無機材研

• 宇野 良清

  日大文理

• 雪野 健

  無機材質研

• 和田 寿璋

  無機材質研

• 和田 寿璋

  無機材研

• 雪野 健

  無機材質研究所

関連論文

• 24aT-2 Ag_2S/SrTiO_3(001)のヘテロエピタキシー
• 27a-L-12 集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計
• 7p-H-4 ReO_3のX線反射強度測定
• 3a-C-2 非晶質PbTiO_3の光学的性質
• 30a-P-6 GaAs粉末試料におけるGaの温度因子の独立測定
• 14a-DL-6 走査型X線回折顕微鏡を用いた格子定数の決定
• PFのBL-4Bにおける放射光用X線粉末回折計
• 粉末回折法における積分強度について (粉末回折法の新しい展開)
• 27a-L-7 GaAs粉末試料におけるGaの温度因子の独立測定
• 31p-TJ-11 X線異常散乱を利用した非晶質PbTiO3の構造解析
• 2a-KK-1 結晶粒子の大きさとX線反射強度
• 11p-T-6 粉末試料の評価法と選択配向の角度分布
• 12p-D-3 硼素のパルス光電導(II)
• 13p-H-9 非晶質PbTiO_3+10モル%B_2O_3の結晶化
• 2a-NR-6 ZnSeの結晶構造因子
• 4p-NB-2 EXAFSによる非晶質PbTiO_3の構造研究
• 31a-N-6 ZnSeの電子分析
• 31a-K-2 硼素のパルス光電導
• 2a-H-3 非晶質PbTiO_3誘電率
• アモルファスPbTiO3の構造のX線的研究 (アモルファス物質)
• 3a-M-12 ZnSe の結晶構造因子の測定
• 3a-C-3 非晶質PbTiO_3のX線解析(II)
• 3a GG-5 非晶質PbTiO_3のX線解析
• 極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析
• 窒化珪素の加圧焼結 : Mg-Si-N-O系化合物添加の場合
• 窒素雰囲気中におけるAl_2O_3とシリコンとの反応
• 31a-B-9 超短波長X線によるRB_6の電子密度分布解析
• 4p-X-11 SXDM/XPDによるLaB_6の格子定数と反射強度の測定
• 30a-ZB-10 集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計 II
• 4a-TA-9 新しい粉末X線回折計及び走査型X線回折顕微鏡の設計
• 1a-TG-10 β-SiCのX線強度
• 1a-BJ-7 硼素結晶の高電界伝導
• 30p-A-13 WKα_1線によるRB_6(R=rare earth)の温度因子の温度変化II
• WKα_1線によるRB_6(R=rare earth)の温度因子の温度変化
• 30p-P-4 超短波長X線によるRB_6の電子密度分布解析II
• 30p-P-3 超短波長X線によるα-水晶の電子密度分布
• 4a-X-13 WKα線による半導体の電子密度分布I
• 14p-DL-5 WkαによるSiの精密電子密度分布
• 2a-N-1 異方性導体 β-M_xV_2O_5 の NMR II
• 31p-BF-10 GaP 構造因子の絶対測定
• 2a-BD-3 強誘電体 LiNbO_3 と PbTiO_3 の液体急冷法による非晶質薄帯化
• H.P.Klug and L.E. Alexander, X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley, New York and London, 1974, xxv+966ページ, 23.5×16.5cm, 12,930円.
• 8a-B-15 GaP,GaAs,GaSbの電子分布
• 3p-KE-5 連続X線とSSDによるX線回折強度測定
• 3p-KE-4 連続X線回折における熱散漫散乱の補正
• 10a-H-1 GaP,GaAs,GaSbの電子分布
• 8a-D-2 GaSbのX線的研究 (III)
• 5p-E-11 GaSbのX線的研究II
• GaSbのX線的研究 : X線・粒子線
• 3a-G-11 GaAsのX線的研究III
• Charge および Spin Density についての Sagamore 会議報告
• 6a-E-9 GaAsのX線的研究II
• 3p-C-2 硼素の光電導
• GaAsのX線的研究 : X線・粒子線
• NiOの高温における電気伝導 : 半導体(磁性半導体)
• NiOの電子密度(II) : 粒子線・X線
• X-ray goniometerのmissetting errorの積分強度に及ぼす影響(X線)
• 集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計
• 高分解能電子密度分布解析のための新しい実験システム
• PFのBL-4Bにおける放射光用X線粉末回折計
• 9.粉末回折法における積分強度について
• 粉末結晶を用いた電子密度分布の研究
• 4p-O-12 MgOのX線的研究II
• MgOのX線的研究 : X線・粒子線
• 集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計
• 金属・合金・共有結合結晶内の電子分布
• 4p-O-13 NiOの電子密度分布
• 13a-P-11 遷移金属酸化物のX線的研究(II)
• 遷移金属酸化物のX線的研究 : X線電子線
• 6a-Q-3 NiOのX線的研究
• 9p-K-1 NiOのX線的研究
• NiOのX線的研究 : XVII. 磁気
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク