宇野 良清 | 日大文理
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概要
関連著者
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宇野 良清
日大文理
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小澤 春雄
日大文理
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日大文理
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日大文理
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津屋 昇
東北大通研
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津屋 昇
東北大学電気通信研究所
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雪野 健
無機材研
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津屋 昇
東北大 通研
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雪野 健
日大文理
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荒井 賢一
東北大通研
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大隅 一政
高エ研
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雪野 健
無機材質研
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雪野 健
無機材質研究所
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和田 寿璋
無機材研
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宇野 良清
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宇野 良清
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物性研
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無機材質研
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日本大学・文理学部
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日大文理
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寺門 肇
日大文理
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寺内 暉
関学大理
著作論文
- 3a-C-2 非晶質PbTiO_3の光学的性質
- 30a-P-6 GaAs粉末試料におけるGaの温度因子の独立測定
- 14a-DL-6 走査型X線回折顕微鏡を用いた格子定数の決定
- PFのBL-4Bにおける放射光用X線粉末回折計
- 粉末回折法における積分強度について (粉末回折法の新しい展開)
- 27a-L-7 GaAs粉末試料におけるGaの温度因子の独立測定
- 31p-TJ-11 X線異常散乱を利用した非晶質PbTiO3の構造解析
- 2a-KK-1 結晶粒子の大きさとX線反射強度
- 11p-T-6 粉末試料の評価法と選択配向の角度分布
- 12p-D-3 硼素のパルス光電導(II)
- 13p-H-9 非晶質PbTiO_3+10モル%B_2O_3の結晶化
- 2a-NR-6 ZnSeの結晶構造因子
- 4p-NB-2 EXAFSによる非晶質PbTiO_3の構造研究
- 31a-N-6 ZnSeの電子分析
- 31a-K-2 硼素のパルス光電導
- 2a-H-3 非晶質PbTiO_3誘電率
- アモルファスPbTiO3の構造のX線的研究 (アモルファス物質)
- 3a-M-12 ZnSe の結晶構造因子の測定
- 3a-C-3 非晶質PbTiO_3のX線解析(II)
- 3a GG-5 非晶質PbTiO_3のX線解析
- 1a-TG-10 β-SiCのX線強度
- 1a-BJ-7 硼素結晶の高電界伝導
- 31p-BF-10 GaP 構造因子の絶対測定
- 2a-BD-3 強誘電体 LiNbO_3 と PbTiO_3 の液体急冷法による非晶質薄帯化
- H.P.Klug and L.E. Alexander, X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley, New York and London, 1974, xxv+966ページ, 23.5×16.5cm, 12,930円.
- 8a-B-15 GaP,GaAs,GaSbの電子分布
- 3p-KE-5 連続X線とSSDによるX線回折強度測定
- 3p-KE-4 連続X線回折における熱散漫散乱の補正
- 10a-H-1 GaP,GaAs,GaSbの電子分布
- 8a-D-2 GaSbのX線的研究 (III)
- 5p-E-11 GaSbのX線的研究II
- GaSbのX線的研究 : X線・粒子線
- 3a-G-11 GaAsのX線的研究III
- Charge および Spin Density についての Sagamore 会議報告
- 6a-E-9 GaAsのX線的研究II
- 3p-C-2 硼素の光電導
- GaAsのX線的研究 : X線・粒子線
- NiOの高温における電気伝導 : 半導体(磁性半導体)
- NiOの電子密度(II) : 粒子線・X線
- X-ray goniometerのmissetting errorの積分強度に及ぼす影響(X線)
- PFのBL-4Bにおける放射光用X線粉末回折計
- 9.粉末回折法における積分強度について
- 粉末結晶を用いた電子密度分布の研究
- 4p-O-12 MgOのX線的研究II
- MgOのX線的研究 : X線・粒子線
- 金属・合金・共有結合結晶内の電子分布
- 4p-O-13 NiOの電子密度分布
- 13a-P-11 遷移金属酸化物のX線的研究(II)
- 遷移金属酸化物のX線的研究 : X線電子線
- 6a-Q-3 NiOのX線的研究
- 9p-K-1 NiOのX線的研究
- NiOのX線的研究 : XVII. 磁気
- タイトル無し
- タイトル無し
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