集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計
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概要
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A new type of scanning X-ray diffracto-microscope (SXDM) /X-ray powder diffractometer (XPD) which uses a converged incident beam, was designed, manufactured, and some of its basic characteristics were examined. The optical system consists of two asymmetric reflection type curved crystal monochromators for both incident and reflection beams, a PSPC and a translation mechanism for the specimen.
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