等価内部インピーダンスを用いたシミュレーションによるLSIのEMS評価
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概要
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CMOS LSIの誤動作の原因は様々なものが考えられるが, その一つとして電源系ノイズが挙げられる.本稿では, 電源系ノイズによりLSIの内部インピーダンスにおいて電位差が発生し, その電位差がMOSの誤動作の原因であるとの考えにより, LSIの内部インピーダンスを用いたEMS評価モデルを提案する.また, 評価用LSIに本モデルを適用し, シミュレーションによるEMS性能評価を行う.さらに, この評価用LSIのEMS実測評価を行い, シミュレーション結果と比較・検討し, LSIのインピーダンスとEMS性能との相関を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-11-15
著者
-
柴田 修
松下電器産業株式会社
-
福本 幸弘
松下電器産業(株)
-
福本 幸弘
松下電器産業株式会社システムエンジニアリングセンター
-
高橋 英治
松下電器産業(株)マルチメディア開発センター
-
米田 貴史
松下電器産業(株)半導体社
-
辨野 宏
松下電器産業(株)半導体社
-
福本 幸弘
松下電器産業株式会社
-
柴田 修
松下電器産業(株)
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